研究:フォトニックワイヤボンディング

本集積モジュールを作製するには,紫外線硬化樹脂の3次元構造体加工が要求されます.この要求を満足する微細加工技術として,紫外線硬化樹脂に数100フェムト秒の近赤外線パルス光を照射することで,集光スポットのみで材料が硬化する2光子吸収による高精度光造形があります.当研究室では将来的なオンチップ光通信の実現のために,この技術を用いることを検討しています.その一環として,Si基板上にハイブリッド実装したGaInAsP/InP横方向注入型(LCI)レーザ及び光検出器(レーザと同構造)間をPWBにより接続し,その際の特性を明らかにすることで,さらなる性能向上に向けて研究を行っています.

Ⅰ. PWB断面形状の検討と対策

波長1.55µmの光を伝搬する際,PWBの断面形状は新円かつ直径<1.0µmであることが有効的であるとわかっています.実際の形状ではアスペクト日が1ではありません(図2).当研究室では,性能の向上に向けて,新円に近づくよう,工夫を凝らしています.

Ⅱ. PWBによる伝搬の確認

本研究では,Si基板上に樹脂接合したⅢ-Ⅴ族化合物半導体薄膜レーザを用いています.化合物半導体を200 nm程度に薄くした後,上下を低屈折率誘電体で挟むことにより,活性層の光閉じ込め係数を通常の半導体構造に比べて3倍程度まで高めることができ,閾値として1mA以下の低消費電力動作を可能としています.図3で示すように,PWBでのチップ間伝送を実現しています.

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東京工業大学 工学院 電気電子系 西山研究室

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